变温霍尔效应测试系统

变温霍尔效应测试系统

产地厂家：Lake Shore（美国）

规格型号：8400系列

购置时间：2021年9月

　　主要技术指标：

　　1、可变温范围： 支持从室温至低温的变温测试（配合低温选件可扩展至液氮/液氦温区）。　
    　2、磁场范围： 由高稳定电磁铁提供磁场，可实现正反向磁场切换，用于消除偏置电压与热电压干扰。
       3、测量模式： 具备 DC 及 AC Hall 两种测试模式，适用于高迁移率与低迁移率材料；AC 模式噪声抑制能力强，精度高。
　　4、霍尔参数测量： 可获得霍尔电压、霍尔系数、载流子浓度、载流子类型（n/p 型）、迁移率、电阻率等参数。
　　5、支持四探针 / van der Pauw（范德堡法）等测试结构；样品厚度、周长等几何参数可灵活输入。
　　6、智能测试流程： 具备欧姆接触检查（Ohmic Check）、I-V 曲线扫描、电流反转/磁场反转消除误差等自动化功能。
       7、电阻率测量范围： 支持标准样品及高阻样品测量，可自动选择量程与增益。
       8、控制软件： 8400 Series 专用软件，可实现数据采集、拟合分析及自动生成报告。

　　主要用途：

　　本系统可用于测试金属、半导体及新型功能材料的电输运特性，适用于科研中对载流子行为、电阻率变化、磁场响应等物性的精确表征。通过变温与变磁场联合调控，可深入分析材料的导电机制、载流子跃迁行为及能带结构特性，是半导体材料、光电材料、磁性材料和二维材料研究的重要测试平台。